直讀光譜儀廣泛應用于冶金、機械及其他工業(yè)部門，進行冶煉爐前的在線分析以及中心實驗室的產(chǎn)品檢驗，是控制產(chǎn)品質(zhì)量的有效手段之一。接下來介紹提高直讀光譜儀分析質(zhì)量的因素。

2、狹縫

光譜儀采用了一個復雜而又敏感的光學系統(tǒng)。光譜儀的環(huán)境溫度，濕度，機械振動，以及大氣壓的變化，都會使譜線產(chǎn)生微小的變化而造成譜線的偏移。氣壓和濕度變化會改變介質(zhì)的折射率，從而使譜線發(fā)生偏移，濕度的提高不僅會使空氣的折射率增大，而且會對光學零件產(chǎn)生腐蝕作用，降底了儀器透光率，濕度一般應控制在55%-60%以下。溫度對光柵的影響主要改變光柵常數(shù)，使角色散率發(fā)生變化，產(chǎn)生譜線轉移。這些變化會使光譜線不能完全對準相應的出射狹縫，從而影響分析結果。因此光學系統(tǒng)每天至少調(diào)整一次，若室內(nèi)溫度控制恒定.即使天氣變化不大，每周也要調(diào)整狹縫二次。

 

3、入射窗的透鏡

通向各室的透鏡，特別是通向空氣室的透鏡，由于試樣激發(fā)時吹氬，使得試樣曝光時產(chǎn)生的灰塵被吹至透鏡上而阻止了光線的透過，影響測定結果的準確性。因此要經(jīng)常清洗，一般一周兩次，使其保持清潔，保證所有光線通過透鏡而進入光室進行測定。特別提醒的是，清洗透鏡后要多激發(fā)幾個廢樣，等強度穩(wěn)定后再進行標準化操作，否則對分析質(zhì)量造成影響。

 

4、激發(fā)臺

清洗激發(fā)臺的內(nèi)表面，主要是避免殘留內(nèi)壁的粉塵放電影響分析結果。通常每激發(fā)100—200次應清理一次。電極與激發(fā)面之間的距離，必須按極距要求調(diào)整好，如果與激發(fā)面的距離太大，試樣不易激發(fā)，如果電極與激發(fā)面的距離太小，曝光時放電電流太大，以致于與儀器各參數(shù)不相匹配，使測定結果與實際結果之間有差異，影響測定的準確性。因此必須將電極與激發(fā)面的距離調(diào)整準確，清洗激發(fā)臺和電極后一定要重視這個問題。